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EDX-9000S PLUS X射线荧光分析仪 全元素分析矿石分析仪![]()
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商品说明
商品参数
仪器参数 元素分析范围:氟(F)~铀(U) 分析检出限:最低可达0.2ppm(轻基体) 分析含量:ppm~99.99% 分析精确度:<0.05%(含量>96%以上样品的主元素多次重复性测量RSD值) 探测器能量分辨率:SDD探测器,≤129eV X射线激发源:管压5~50Kv、管流0~1000uA 高压发生器:Spellman进口高压 测试氛围:大气、真空、氦气 样品进样系统:单位杯、9杯位(带杯位自旋)、12杯位+单腔体、20杯位+单腔体(可选),采用PLC控制 任意多个可自动匹配或选择的分析和识别模型 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回归程序 温度适应范围:15°C-30C 电源:交流220V土5V,建议配置交流净化稳压电源 EDX-9000S PLUS 配置选择 1.单位杯 2.自旋9杯位套餐(样品杯可自旋,减少样品均匀性误差,粉末压片等规则样品。只有9杯位可选择,不带单腔切换功能) 3.12杯位套餐(不可自旋,应用测试对象:粉末压片等规则样品,单样腔与多样腔可切换) 4.20杯位套餐(20杯位不可自旋,应用测试对像:塑料颗粒、液体等样品,单样腔与多样腔可切换) 应用领域 |